材質(zhì)	金屬
測量時間	＜10秒
測量準(zhǔn)確度	10 秒
產(chǎn)地	英國
類型	納米粒度儀
顯示方式	數(shù)顯式
執(zhí)行質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)	歐規(guī)
測量重復(fù)性	優(yōu)于0.5%變量
經(jīng)營模式	品牌經(jīng)銷
品牌	馬爾文
型號	Zetasizer
加工定制	是
質(zhì)量認(rèn)證	CE
可測粒度范圍	0.3nm - 5μm

Malvern Panalytical 馬爾文激光粒度儀

Malvern Panalytical 儀器旨在幫助用戶更好地了解各種各樣的材料，從蛋白質(zhì)和聚合物、顆粒和納米顆粒懸浮液和乳狀液，再到噴霧劑和氣霧劑、工業(yè)散裝粉末、礦物和高濃度漿類樣品及固體，例如金屬和建筑材料、塑料和聚合物。

使用我們的技術(shù)可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱、Zeta 電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、流變性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu)等參數(shù)。 這些特性的高可靠性和耐用性對于預(yù)測產(chǎn)品在使用過程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能，從而實現(xiàn)。

Zetasizer 系列分為高性能級與標(biāo)準(zhǔn)級兩類系統(tǒng)，包含粒度分析儀、zeta 電位分析儀、分子量分析儀、蛋白質(zhì)遷移率及微觀流變學(xué)測量組合。 對應(yīng)于您應(yīng)用及預(yù)算要求，從粒度小于一納米的顆粒/分子到幾微米的顆粒/。此類系統(tǒng)采用動態(tài)光散射法測量粒度及微流變；采用電泳光散射法測量ZETA電位及電泳遷移率；采用靜態(tài)光散射法測量分子量。 此外，該系統(tǒng)還可在流量配置中使用，與GPC/SEC系統(tǒng)連接，作為色譜粒度檢測器使用。

Zetasizer 系列儀器使用動態(tài)光散射技術(shù)測量自納米級以下至幾微米的顆粒與分子粒度，使用電泳光散射技術(shù)測量電動電勢及電泳遷移率，并使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量分子量。 Zetasizer 系統(tǒng)提供了一系列型號，包括新的 Zetasizer Pro 和 Ultra。

Zetasizer Nano ZSP是性能高的系統(tǒng)，特別適用于需要高粒度及zeta電位測量靈敏度的蛋白質(zhì)及納米顆粒的表征。 該系統(tǒng)包含了用于蛋白質(zhì)遷移率測量的蛋白質(zhì)測量選件。

該系統(tǒng)包含一臺雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動態(tài)光散射法，結(jié)合“NIBS”光學(xué)器件，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSP還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子及表面檢測的zeta電位分析儀，以及靜態(tài)光散射法表征分子量。

與使用90度散射光學(xué)器件的系統(tǒng)相比，該系統(tǒng)采用非侵入式背散射光學(xué)器件（NIBS），使性能得到顯著提升。

另外，微觀流變學(xué)選件可用于測量樣品粘度及粘彈特性。

流動模式選件使該系統(tǒng)可與SEC或FFF系統(tǒng)連接，作為蛋白質(zhì)或納米顆粒粒度檢測器使用。

此外，還有用于粘性或高濃度樣品或表面zeta電位測量的樣品池可供選擇，從可拋棄性樣品池到特定的樣品池

測量的參數(shù)：
顆粒和分子尺寸、平動擴散、電泳遷移率、高低濃度下顆粒的zeta電位、高分子和蛋白質(zhì)溶液的粘度和粘彈性、濃度、分子量、A_{2, kD。}

可選附件則可測量固體表面的zeta電位。

使用M3-PALS技術(shù)，實現(xiàn)蛋白質(zhì)及納米顆粒zeta電位測量的高靈敏度。 粒度測量范圍：0.3 nm（直徑）至10微米，采用NIBS（非侵入式背散射）技術(shù)。 使用附加的樣品池進行表面zeta電位測量。 分子量測量**小可達980Da。 微觀流變學(xué)選件可測量粘性及粘彈性。 蛋白質(zhì)粒度測量靈敏度，0.1mg/mL （溶菌酶）。 樣品濃度范圍為0.1ppm至40%w/v。 內(nèi)置蛋白質(zhì)計算器，計算蛋白質(zhì)電荷、A2、kD以及分子構(gòu)成等參數(shù)。 "質(zhì)量因子"及"專家診斷系統(tǒng)"尤如專家伴隨您的左右，使您成竹在胸。 21CFR軟件選項可實現(xiàn)ER/ES合規(guī)性。 科研級軟件選項，為光散射專家提供運算法則。 使用自動滴定儀選件進行自動測量。 色譜法檢測器功能可作為粒度檢測器與GPC / SEC 或 FFF配合使用。 光學(xué)濾波器選件，用于改善熒光樣品的測量。