型號

項目、

XAD

XAD-200

涂鍍層分析

可同時分析23個鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析，可檢測Li⑶-U（92）涂鍍層90種元素

RoHS分析

無

有害元素檢測（Rohs、鹵素） 低檢出限可達(dá)1 ppm

成分分析

用于地礦、合金及貴金屬等物質(zhì)中AI （13） -U （92）的80種元素成分分析

EFP算法

標(biāo)配

軟件操作

人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

分析時間

1-200秒

探測器

標(biāo)配Si-Pin半導(dǎo)體探測器，

選配S D D硅漂移大面積2 5 m m 2探測器

標(biāo)配SDD硅兼大面積25mm2探測器， 選配SDD硅漂移大面積50mm2探測器

/Si-Pin半導(dǎo)體探測器

X射線裝置

微聚焦加強型射線管

準(zhǔn)直器

Φ0.3mm;

Φ0.2mm;

Φ0.5mm;

□ 0.1 *0.3mm;

四準(zhǔn)直器可選，Φ0.3mm為標(biāo)酉己（也可另外訂制） 選配四準(zhǔn)直器自動切換（也可另夕卜訂制

□ 0.1 *O.3mm/0O.2mm;

00.3/0.5mm;

Φ1.2mm; 05mm/03mm; 四準(zhǔn)直器自動切換 （也可另外訂制）

光路交換器

高集成，近測距光斑擴散度＜10%

濾光片

標(biāo)配一種濾光片，可選配四種濾光片自由切換

四種濾光片自由切換

測量距離

具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異型樣品，變焦距離0-90mm

樣品觀測

1/2.7"彩色CCD,變焦功能

對焦方式

高敏感鏡頭，無感自動對焦

放大倍數(shù)

光學(xué)18-46X,數(shù)字放大20-200倍

儀器尺寸

550mm*760mm*635mm

Z軸移動范圍

145mm

樣品臺移動方式

自動XY滑臺

全自動高精度XY平臺

可移動范圍

100mm*1 50mm

210mm*230mm

儀器重量

100KG

120KG

其他附件

電腦一套、噴墨打印機、附件箱、十二元素片、電鍍液測量杯（選配）、標(biāo)準(zhǔn)片（選配）

X射線標(biāo)準(zhǔn)

DIN ISO 3497、ASTM B 568 和 DIN 50987